产品概述
IVM400 是一款完全集成式、全自动的 FT-IR 显微镜，代表了当前红外显微成像技术的顶尖水平，专注于对微小样品进行微区分析和化学成像。
高度集成与自动化
单机一体化设计
IVM400 将 FT-IR 光谱仪、显微镜和所有光学部件完全集成在一个紧凑的机箱内。
优点：节省空间，避免了外接光谱仪带来的光路损耗和校准烦恼，系统稳定性极高。
全自动操作
全自动傅立叶变换红外显微镜：全自动控制 ATR 晶体，全自动控制透明刀口光阑，全自动控制聚焦镜，全自动控制可见光起偏器和检偏器，全自动控制样品台。
卓越的性能与丰富配置方案
标准配置
- TE-MCT 检测器，无需液氮
- 行业领先的 ATR 晶体设计
- 无需液氮冷却，无需干燥空气吹扫
可选配置
- 可选配 LN-MCT 和 DTGS 检测器
- 最多可并行安装两个单点检测器
- 支持后期升级至 FPA 成像
性能指标
- 最大可分析 40 mm 高度的样品
- 信/噪比：优于 35000:1（1 分钟扫描）
- 波数精度：优于 0.0005 cm⁻¹
典型应用领域
IVM400 适用于电子器件、环境、新能源电池、刑侦、药物、食品、艺术品、生物等多领域的微区分析与化学成像
电子器件
电路板、键盘、液晶板、油漆、涂层
环境
微塑料、污染物
新能源电池
电极材料、隔膜材料
刑侦
微量物证
药物、食品
成分分布、包材、污染物分析
艺术品
古代颜料、造材、艺术品修复
生物
生物学病理切片、组织切片
应用举例
多层膜包材
对多层膜包材进行微区分析与化学成像，表征各层成分与分布。图中为微米级化学成像结果，不同颜色代表不同化学组分。
CMOS 电路板上污染物分析
对 CMOS 电路板表面污染物进行微区红外分析，结合光谱检索可实现微量物证鉴定与溯源（如检索结果：人类皮屑等）。